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機器分析技術グループ担当技術職員研修(研修最終日)


日時 2012年4月27日(金)9:00~15:00

場所 地域連携推進センター、極低温室、電子顕微鏡室、教育学部

内容

地域連携推進センター内の分析装置等の見学(小林公博技術専門職員)9:00~10:00
X線光分光装置(ESCA),飛行時間型二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS)、原子間力顕微鏡(AFM)、デジタルマイクロスコープ

極低温室、低温実験室の見学(田中一朗技術専門職員)10:00~11:00
ヘリウム液化装置、ヘリウム回収システム、超伝導マグネット、超伝導高分解能核磁気共鳴装置(NMR)

電子顕微鏡室の見学(佐々木邦明技術専門職員)11:00~12:00
透過電子顕微鏡(TEM),走査電子顕微鏡(SEM)、試料作製システム

教育学部理科教育学科における技術支援の紹介(藤崎聡美技術専門職員)13:00~15:00
教育学部と理科教育科、教育支援に携わっている授業・実験等の紹介
研究紹介
科研費チームでの研究会、学校気象台プロジェクト、小学校理科A・Bプロジェクト、岩大エキスプロジェクト

written by 機器分析技術グループ
(2012/04/27)

Category: 日記