飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)技術研修を実施しました

昨年度からスタートした共同利用分析機器担当者の技術力強化トレーニングは、これまで 核磁気共鳴 (NMR)や二重収束質量分析(MS)等を用いた研修を実施していました。今回、2025年1月に実施したX線光電子分光(XPS)技術研修でお世話になった東北大学の方々とのご縁から、飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)の技術研研修を企画し、3月に実施しました。講師に東北大学の技術職員2名と、大阪大学の技術職員1名にも参加いただきました。

・実施日程:2025年3月17日(月)~18日(火)

・場所:岩手大学 地域共同研究棟(C15)

各大学で所有している装置が違うため、条件設定に工夫を凝らし、データの違いや装置の構造の違い等を確認できました。また、測定やデータ処理におけるノウハウをご教示いただきました。

また、同日に行われていたNMRトレーニングの見学もさせてもらい他担当の方とも交流でき、 技術習得だけでなく、研究者間の交流や情報共有も深まり、非常に有意義でした。

Written by N
(2025.4.1)

X線光電子分光(XPS)技術研修を実施しました

東北大学のXPSを専任で担当している2名を講師に迎え、本学の装置を用いてX線光電子分光(XPS)の技術研研修を行いました。試料の固定方法や分析条件等について、ご教示いただきました。また、同一試料をX線源を変えて測定し、 測定結果の違いを検証しました。
また、本学にある全学共同利用機器の見学をし、東北大学と岩手大学の共用設備について情報交換を行いました。

・実施日程:2025年1月20日(月)~21日(火)

・場所:岩手大学 地域共同研究棟(C15)

普段から装置を利用している学生に声をかけたところ、年度末にもかかわらず多くの学生が参加してくれました。 積極的に質問し、熱心に分析に取り組んでいたため、充実した研修となり、担当者の 技術力向上への意欲を一層高める契機となりました 。

本研修について、東北大学 事業支援機構 総合技術部のHPに掲載いただきました。以下URLよりご確認いただけますので、ぜひご覧ください。

●東北大学 事業支援機構 総合技術部 News
【研修報告】X線光電子分光(XPS)技術研修/分析・評価・観測群

https://www.tech.tohoku.ac.jp/news/detail—id-159.html


Written by N
(2025.3.31)