飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)技術研修を実施しました

昨年度からスタートした共同利用分析機器担当者の技術力強化トレーニングは、これまで 核磁気共鳴 (NMR)や二重収束質量分析(MS)等を用いた研修を実施していました。今回、2025年1月に実施したX線光電子分光(XPS)技術研修でお世話になった東北大学の方々とのご縁から、飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)の技術研研修を企画し、3月に実施しました。講師に東北大学の技術職員2名と、大阪大学の技術職員1名にも参加いただきました。

・実施日程:2025年3月17日(月)~18日(火)

・場所:岩手大学 地域共同研究棟(C15)

各大学で所有している装置が違うため、条件設定に工夫を凝らし、データの違いや装置の構造の違い等を確認できました。また、測定やデータ処理におけるノウハウをご教示いただきました。

また、同日に行われていたNMRトレーニングの見学もさせてもらい他担当の方とも交流でき、 技術習得だけでなく、研究者間の交流や情報共有も深まり、非常に有意義でした。

Written by N
(2025.4.1)

X線光電子分光(XPS)技術研修を実施しました

東北大学のXPSを専任で担当している2名を講師に迎え、本学の装置を用いてX線光電子分光(XPS)の技術研研修を行いました。試料の固定方法や分析条件等について、ご教示いただきました。また、同一試料をX線源を変えて測定し、 測定結果の違いを検証しました。
また、本学にある全学共同利用機器の見学をし、東北大学と岩手大学の共用設備について情報交換を行いました。

・実施日程:2025年1月20日(月)~21日(火)

・場所:岩手大学 地域共同研究棟(C15)

普段から装置を利用している学生に声をかけたところ、年度末にもかかわらず多くの学生が参加してくれました。 積極的に質問し、熱心に分析に取り組んでいたため、充実した研修となり、担当者の 技術力向上への意欲を一層高める契機となりました 。

本研修について、東北大学 事業支援機構 総合技術部のHPに掲載いただきました。以下URLよりご確認いただけますので、ぜひご覧ください。

●東北大学 事業支援機構 総合技術部 News
【研修報告】X線光電子分光(XPS)技術研修/分析・評価・観測群

https://www.tech.tohoku.ac.jp/news/detail—id-159.html


Written by N
(2025.3.31)

第30回 機器・分析技術研究会2024@広島大学 への参加報告

「第30回 機器・分析技術研究会2024広島大学」にて、本学理工学系技術部から2名がポスター発表を行いました。

・研究会日程:2024年9月5日(木)~6日(金)

・会場:広島大学東広島キャンパス

・発表内容

「XPSにおける酸化チタンの価数評価」
      機器分析技術グループ 岩渕仁那技術職員 (写真左)
(概要)X線光電子分光分析装置(X-ray Photoelectron Spectroscopy:XPS)は、固体試料にX線を照射し、生じる光電子の運動エネルギーを計測することで、試料表面の情報を取得することができる。特徴として、化学結合状態を解析することが可能なため、試料の酸化状態を評価することにも有効である。本研究会では、成分が明らかになっているチタンを主成分とする酸化物試料をXPSにて測定し、酸化チタンの価数評価を行った内容を報告した。

「共同利用機器担当者技術力強化トレーニング実施報告」
      化学・生命技術グループ 田沼萌技術職員 (写真右)
【共著者】                                     笹本誠、千葉寿、田中一朗、水戸部祐子、中川美智子、吹上菜穂
岩手大学 技術部理工学系技術部
(概要)令和5年度に、4種類の全学共同利用機器を担当する職員の測定技術力の強化を目的としたトレーニングを行った。他機関で同様の装置を用いて分析を行っている技術者に講師をお願いし、ご指導いただいた。発表では、筆者が受講した2種類の装置に関するトレーニング内容について報告した。

多くの方々と交流でき、貴重なご意見や情報をいただけたので、今後の業務に役立てていきたいです。

Written by R6機器・分析技術研究会参加者一同
(2024.9.25)

XPSのメンテナンスを行いました

全学共同利用装置であるXPSのメンテナンスを行いました。

XPSとは、正式名称はX線光電子分光分析装置(X-ray Photoelectron Spectroscopy)と呼ばれ、固体試料にX線を照射し、表面から約数nmの深さの構成元素および元素の化学結合状態を分析できる装置です。固体試料なら、金属、セラミックス、半導体、有機物を問わずに測定でき、イオンスパッタリング法等の手法による深さ方向分析や、界面の情報および深さ方向の組成分布も取得できます。
そのため、XPSは材料評価および材料開発において重要な分析手段となっており、本学でも研究に多大な貢献をしています。

X線光電子分光分析装置(XPS)

XPSのチャンバー内は超高真空(10-8Pa)になっています。そのため、普段は装置内部を見ることができませんが、メンテナンスなどの機会には装置内部を見ることができます。 試料台やX線源などの構造を直接見ることができ、大変勉強になりました。


ベーキング中

窓から見たチャンバー内

無事メンテナンスが終わりました!
今後も様々な教育・研究で、XPSを利用していただきたいと思います。


Written by NI
(2022.7.8)

令和3年度 配属先研修(機器分析技術グループ)

機器分析技術グループにて、 令和3年4月採用の庄司さんと野田さんの配属先研修を行いました。

日時:令和3年6月14日(月) 9:00~12:00

内容:自己紹介
   研究推進機構 研究基盤管理・機器分析部門の業務への技術支援状況説明
   核磁気共鳴装置(NMR)・質量分析装置(MS)・X線光電子分光装置
   (XPS)等の紹介
   低温室の施設および設備紹介
   電子顕微鏡室の施設および設備紹介

自己紹介および業務説明
飛行時間型二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS)の見学・紹介
ガスクロマトグラフ質量分析装置 (GCMS)の見学・紹介
原子間力顕微鏡(AFM) の見学・説明
低温室の施設および設備見学・紹介

参加した2名は、学生の時に知らなかった装置を知れたことや、 装置の保守管理に高額の予算が使われていることに驚いていました。
熱心に説明を聞きながら、積極的に質問してくださり、今後の業務に活かそうという様子が見られました。

長時間の研修、お疲れさまでした。

Written by 機器分析技術G
(2021.6.14)