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令和3年度 配属先研修(機器分析技術グループ)


機器分析技術グループにて、 令和3年4月採用の庄司さんと野田さんの配属先研修を行いました。

日時:令和3年6月14日(月) 9:00~12:00

内容:自己紹介
   研究推進機構 研究基盤管理・機器分析部門の業務への技術支援状況説明
   核磁気共鳴装置(NMR)・質量分析装置(MS)・X線光電子分光装置
   (XPS)等の紹介
   低温室の施設および設備紹介
   電子顕微鏡室の施設および設備紹介

自己紹介および業務説明

飛行時間型二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS)の見学・紹介
ガスクロマトグラフ質量分析装置 (GCMS)の見学・紹介
原子間力顕微鏡(AFM) の見学・説明
低温室の施設および設備見学・紹介

参加した2名は、学生の時に知らなかった装置を知れたことや、 装置の保守管理に高額の予算が使われていることに驚いていました。
熱心に説明を聞きながら、積極的に質問してくださり、今後の業務に活かそうという様子が見られました。

長時間の研修、お疲れさまでした。

Written by 機器分析技術G
(2021.6.14)

Category: 技術研修, 機器分析技術グループ