飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)技術研修を実施しました

昨年度からスタートした共同利用分析機器担当者の技術力強化トレーニングは、これまで 核磁気共鳴 (NMR)や二重収束質量分析(MS)等を用いた研修を実施していました。今回、2025年1月に実施したX線光電子分光(XPS)技術研修でお世話になった東北大学の方々とのご縁から、飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)の技術研研修を企画し、3月に実施しました。講師に東北大学の技術職員2名と、大阪大学の技術職員1名にも参加いただきました。

・実施日程:2025年3月17日(月)~18日(火)

・場所:岩手大学 地域共同研究棟(C15)

各大学で所有している装置が違うため、条件設定に工夫を凝らし、データの違いや装置の構造の違い等を確認できました。また、測定やデータ処理におけるノウハウをご教示いただきました。

また、同日に行われていたNMRトレーニングの見学もさせてもらい他担当の方とも交流でき、 技術習得だけでなく、研究者間の交流や情報共有も深まり、非常に有意義でした。

Written by N
(2025.4.1)